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上海市高新技術企業
上海市“專精特新”企業
完善的半導體領域、微納米實驗室測試方案集成商
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高新技術企業
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“專精特新”企業
Hanwa HED-S5000R全自動HBM/MM/Latch-up測試機（256pin）
Hanwa HED-W5000M晶圓級HBM/MM/HMM測試儀
Hanwa HED-T5000高性能TLP
Hanwa HED-C5000R全自動CDM測試儀
Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機
Hanwa HCE-5000小型便攜ESD測試儀
HPPI TLP
開循環極低溫探針臺 閉循環極低溫探針臺 閉循環磁場探針臺 低溫磁場探針臺 ICE低溫恒溫器 磁場產品
MPI手動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI半自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI高功率全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI 測試系統選件 MPI全系列測試耗材 MPI全系列Celadon探卡
酸/激光開封機 臺階儀 熱流儀 Vcsel光電測試系統 OKMETIC先進硅基襯底
R&S 羅德斯瓦茨 測試儀表 霍爾效應測試 Farran毫米波系統
PCB手動探針臺 PCB半自動探針臺 PCB全自動探針臺
英鉑實驗室測試中心現有測試類型：直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等
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產品概要：ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體...
產品概要：此設備用于半導體元器件靜電保護電路抗靜電能力的測試，通過該測試可以...
產品概要：HANWA新一代G5000系列ESD靜電破壞檢測機隆重登場。搭載多Pin腳無繼電器...
產品概要：此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備(滿足JEITA ESDA J...
產品概要：低溫探針臺可以對器件進行非破壞性的測試，器件的最大尺寸可達到102mm(4...
產品概要：此類閉循環制冷機不需要消耗液氦和液氮，CPX系列探針臺的溫度變化范圍 ...
產品概要：英鉑科學低溫磁場探針臺是為非破壞性靈活測試而設計，此低溫磁場探針臺...
產品概要：稀釋制冷機是一種能夠提供接近絕對零度環境的高端科研儀器，稀釋制冷機...
產品概要：MPI TS50 手動探頭系統專為 IC 工程、單芯片探測和 DC CV 和 RF...
產品概要：MPI TS150-HP和TS200-HP探針系統提供了完整的150mm和200mm晶圓上解決方...
產品概要：定制各種封裝類型如TO220,SOT23,DFN等器件測試夾具，支持開爾文測試?；?..
產品概要：MPI TS2000的專用設計可滿足高級半導體測試市場的需求。該系統與所有MP...
產品概要：二維／三維表面粗度解析及臺階測定，可實現高精度、高辨識能力及優越的...
產品概要：英鉑科學的高溫爐具有體積小、結構緊湊、溫度高、溫度穩定、加熱功率低...
產品概要：RA-880 可簡單方便的進行半導體塑封器件的封裝去層，露出基板上的引線...
產品概要：RKD的Elite Etch Cu是一臺可為銅線開封的化學開封機，通過集成了先進...
產品概要：Maury 噪聲參數測試系統的噪聲系數是衡量低噪聲器件或者噪聲放大器噪聲...
產品概要：霍爾效應的本質是:固體材料中的載流子在外加磁場中運動時，因為受到洛侖...
產品概要：Maury 微波公司脈沖測量技術專業化程度極高而且普遍被業內用戶認可，搭...
產品概要：4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成的半導體參數分析儀，可以同步...
四探針法測量半導體電阻率測試方案電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數，為了表征工藝質量以及材料的摻雜情況，需要測試材料的電阻率。半導體材料電阻率測試方法有很多種，其中四探針法具有設備簡單、操作方便、...
光電器件的LIV特性測試方案LIV即光電特性，是驗證激光二極管、探測器性能的普遍的方法。在晶圓、切割、管芯、封裝后老化測試過程中，為降低生產成本同時增加產品吞吐量，快速可靠的 LIV測試 系統對制造光電器件的...
功率器件的IV、CV特性測試方案電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數，為了表征工藝質量以及材料的摻雜情況，需要測試材料的電阻率。半導體材料電阻率測試方法有很多種，其中四探針法具有設備簡單、操作方便、...
半導體霍爾效應測試方案半導體材料的霍爾效應是表征和分析半導體材料的重要手段，可根據霍爾系數的符號判斷材料的導電類型?；魻栃举|上是運動的帶電粒子在磁場中受洛侖茲力作用引起的偏轉，當帶電粒子(...
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